Skenirajući tunelski mikroskop

Iz Vikipedije, slobodne enciklopedije
Idi na: navigaciju, pretragu
Rastertunnelmikroskop 2004.jpg

Skenirajući tunelski mikroskop (STM) je veoma moćna tehnologija za snimanje površine i karakterizaciju materijala sa mogućnošću postizanja atomske rezolucije. STM je zasnovana na kvantno-mehaničkom efektu tunelovanja elektrona. Kada se zašiljen vrh od provodnog materijala približi provodnom ili poluprovodničkom materijalu napon koji je prethodno ostvaren između vrha i materijala omogućava prolazak elektrona kroz vakuum koji ih razdvaja. Nakon uspostavljanja toka elektrona struja koja teče između uzorka i vrha (koji igra ulogu sonde) je funkcija lokalne gustine stanja.

Literatura[uredi]


Spoljašnje veze[uredi]