Skenirajući tunelski mikroskop

Rastertunnelmikroskop 2004.jpg

Skenirajući tunelski mikroskop (STM) je veoma moćna tehnologija za snimanje površine i karakterizaciju materijala sa mogućnošću postizanja atomske rezolucije. STM je zasnovana na kvantno-mehaničkom efektu tunelovanja elektrona. Kada se zašiljen vrh od provodnog materijala približi provodnom ili poluprovodničkom materijalu napon koji je prethodno ostvaren između vrha i materijala omogućava prolazak elektrona kroz vakuum koji ih razdvaja. Nakon uspostavljanja toka elektrona struja koja teče između uzorka i vrha (koji igra ulogu sonde) je funkcija lokalne gustine stanja.

Literatura

• Tersoff, J.; Hamann, D. R. (1985). „Theory of the scanning tunneling microscope”. Physical Review B. 31 (2): 805—813. Bibcode:1985PhRvB..31..805T. PMID 9935822. doi:10.1103/PhysRevB.31.805. .
• Bardeen, J. (1961). „Tunnelling from a Many-Particle Point of View”. Physical Review Letters. 6 (2): 57—59. Bibcode:1961PhRvL...6...57B. doi:10.1103/PhysRevLett.6.57. .
• Chen, C. Julian (1990). „Origin of atomic resolution on metal surfaces in scanning tunneling microscopy”. Physical Review Letters. 65 (4): 448—451. Bibcode:1990PhRvL..65..448C. PMID 10042923. doi:10.1103/PhysRevLett.65.448. 
• Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, Ch.; Weibel, E. (1983). „7 × 7 Reconstruction on Si(111) Resolved in Real Space”. Physical Review Letters. 50 (2): 120—123. Bibcode:1983PhRvL..50..120B. doi:10.1103/PhysRevLett.50.120. 
• Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, Ch.; Weibel, E. (1982). „Surface Studies by Scanning Tunneling Microscopy”. Physical Review Letters. 49 (1): 57—61. Bibcode:1982PhRvL..49...57B. doi:10.1103/PhysRevLett.49.57. 
• Binnig, G.; Rohrer, H.; Gerber, Ch.; Weibel, E. (1982). „Tunneling through a controllable vacuum gap”. Applied Physics Letters. 40 (2): 178—180. Bibcode:1982ApPhL..40..178B. doi:10.1063/1.92999. 
• Lapshin, Rostislav V. (2004). „Feature-oriented scanning methodology for probe microscopy and nanotechnology”. Nanotechnology. 15 (9): 1135—1151. Bibcode:2004Nanot..15.1135L. S2CID 250913438. doi:10.1088/0957-4484/15/9/006. 
• Fujita, Daisuke; Sagisaka, Keisuke (2008). „Active nanocharacterization of nanofunctional materials by scanning tunneling microscopy”. Science and Technology of Advanced Materials. 9 (1): 013003. Bibcode:2008STAdM...9a3003F. PMC 5099790 . PMID 27877921. doi:10.1088/1468-6996/9/1/013003.